Estudio de capo analítico de la curva I-V de paneles fotovoltaicos de silicio monocristalino

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Estudio de capo analítico de la curva I-V de paneles fotovoltaicos de silicio monocristalino

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dc.contributor Escuela Superior y Tecnica de Ingenieros de Minas es_ES
dc.contributor.advisor Diez Suárez, Ana María
dc.contributor.author Artime Montero, Ivan
dc.contributor.other Proyectos de Ingenieria es_ES
dc.date 2015-06-23
dc.date.accessioned 2015-09-23T12:10:20Z
dc.date.available 2015-09-23T12:10:20Z
dc.date.issued 2015-09-23
dc.date.submitted 2015-07-16
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10612/4666
dc.description.abstract Aumentar la fiabilidad y la vida útil de los módulos fotovoltaicos es un factor clave a la hora de reducir los costes de esta tecnología. Actualmente, existen estadísticas que muestran una tasa de degradación de la potencia nominal de en torno al 0,8%/año de los módulos de silicio cristalino. Para aumentar esta fiabilidad y la vida útil de los módulos, primero debemos entender a qué retos nos estamos enfrentando. Por esta razón, el trabajo que se muestra a continuación recoge una descripción detallada de los fallos que pueden presentar los módulos fotovoltaicos, su origen, estadísticas y como afectan a la seguridad y potencia de dicho módulo. Este trabajo se centra en los módulos de silicio monocristalino. En primer lugar, se explican varios métodos de medición, que nos permiten identificar y analizar los diferentes defectos. Las técnicas más empleadas son: la inspección visual, el análisis de las curvas características I-V y el uso de la termografía infrarroja. A mayores, también se explica las bases, las mejores prácticas y como se deben interpretar las imágenes correspondientes a cada método. Después, se muestra una descripción detallada de los fallos más comunes producidos en los módulos fotovoltaicos. En concreto, estos fallos son los siguientes: delaminación, pérdida de adhesión de la lámina posterior, fallo de la caja de conexiones, rotura del marco, decoloración de la EVA, fractura de células, baba de caracol, marcas de quemadura, degradación inducida por potencial, desconexión de células y sus interconexiones y diodos bypass defectuosos. Cuando sea posible, también se dará una posible explicación del origen de cada defecto. Además, podemos encontrar una descripción de los problemas de seguridad y de la pérdida de potencia asociada a cada defecto. Finalmente, se ha realizado un estudio de los módulos fotovoltaicos presentes en el parque fotovoltaico de Golpejar de la Sobarriba (León, España), mediante una inspección visual, la realización de fotografías termográficas y la interpretación de las curvas características por medio de un trazador de curvas. Los fallos encontrados son: Baba de caracol, fractura de células, puntos calientes y decoloración de la EVA. Así mismo, se han evaluado dos defectos visuales no recopilados en papers o estudios específicos es_ES
dc.language spa es_ES
dc.relation Grado en Ingeniería de la Energía es_ES
dc.subject Ingeniería de minas es_ES
dc.subject.other Paneles fotovoltaicos es_ES
dc.subject.other Silicio monocristalino es_ES
dc.title Estudio de capo analítico de la curva I-V de paneles fotovoltaicos de silicio monocristalino es_ES
dc.type info:eu-repo/semantics/bachelorThesis es_ES
dc.rights.accessRights info:eu-repo/semantics/openAccess es_ES

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